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KONTRAST – schnell, sicher, sichtbar - ZIM - KONTRAST
Projektleitung
	Dr. rer. nat. Uwe Beck BAM - 6.7 Materialsynthese und Design E-Mail: Uwe.Beck@bam.de
Förderstruktur
	Bund - Bundesministerium für Wirtschaft und Energie (BMWi) - Zentrales Innovationsprogramm Mittelstand (ZIM) - FuE-Kooperationsprojekt (ZF)
Projektbeginn
	01.10.2014
Projektende
	28.02.2017
Projektart
	Realisierte Antragsforschung
Themen-/Aktivitätsfeld
	THEMENFELD Analytical Sciences, * Oberflächen- und Grenzflächenanalytik
Abstract
	Das Projekt adressiert die Qualitätskontrolle von Oberflächen und Schichtsystemen im optischen Fernfeld mittels Brewster-Winkel korreliertem Polarisations- und Phasenkontrast zur Erfassung nanoskaliger Belegungen, Restver-schmutzungen, partikulärer Rückstände und Degradationsphänomene. Die Projektziele umfassen in der komplementär-synergetischen Verknüpfung der 7 Teilprojekte "Messstrategie & Materialien", "Defektcharakterisierung & -reparatur", "Brewster-Winkel-Messtechnik & Scheimpflug-Optik", "Dekorativ-forensische Schichtsysteme", "Optische Oberflächen und Vergütungen", "Strukturierte Flüssigkeitsfilme" und "Laser-Material-Wechselwirkung" erstens das „Fit-Machen“ der Imaging Ellipsometrie für die schnelle und großflächige Beurteilung des Oberflächenzustandes in der industriellen Qualitätskontrolle, zweitens Fragen der Messstrategie und der Materialabhängigkeit (optimale Aufnahmebedingungen) , drittens die Lösung techno-logischer Fragestellungen (Validierung des Oberflächenzustandes und der Reinigungsgüte) und viertens die Bewertung von Oberflächenmodifizierungen im Ergebnis einer Mikromaterialbearbeitung (kompakte Laser, pl- und µl-Dosiersysteme im "field-of-view").